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產(chǎn)品詳情

產(chǎn)品名稱:日本union高倍率工業(yè)顯微鏡

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簡單介紹:
日本union高倍率工業(yè)顯微鏡,在非接觸光學(xué)方法下檢測焦點(diǎn)時(shí),可在不受試樣物理損傷影響的情況下進(jìn)行測量,如變形、沖擊或刻痕等。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)的焊縫精密測量!
詳情介紹:

日本UNION高倍率工業(yè)顯微鏡


unicon工業(yè)顯微鏡.jpg


日本union高倍率工業(yè)顯微鏡,在非接觸光學(xué)方法下檢測焦點(diǎn)時(shí),可在不受試樣物理損傷影響的情況下進(jìn)行測量,如變形、沖擊或刻痕等。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)的焊縫精密測量!


高倍率工業(yè)顯微鏡應(yīng)用場景


正向立式投影儀產(chǎn)品應(yīng)用場景廣泛.png

(1)引線框架高度

(2)IC探頭高度、探頭**磨損程度

(3)焊線和焊球的高度

(4)多層PC板上的終端臺階

(5)硅片和砷化鎵上的步驟

(6)石英晶體上的臺階

(7)罐上的凹槽

(8)墊片厚度


總的來說,是焊接后焊縫高精密測量儀器。


高倍率工業(yè)顯微鏡產(chǎn)品特點(diǎn)



立式正向投影儀.png


高倍率工業(yè)顯微鏡測量原理



 該顯微鏡系統(tǒng)提供了一個(gè)的聚焦指示器,該指示器由折射率分劃(目標(biāo)標(biāo)記)和內(nèi)置在顯微鏡反射照明光學(xué)系統(tǒng)中的分束棱鏡組成。它是根據(jù)光學(xué)原理設(shè)計(jì)的,在對焦?fàn)顟B(tài)下,上下兩半重合,可以在試樣的對焦圖像上方觀察到,即使稍微散焦,也可以在分劃的上下兩半將折射率線分成兩條線。

立式正向投影儀測量原理.png


高倍率工業(yè)顯微鏡的測量方法



    通過確認(rèn)分劃上半部分和下半部分中的垂直索引線與兩條直線完全重合,確保的焦點(diǎn),而不是判斷樣本表面的圖像是否模糊。因?yàn)檫@是一個(gè)獨(dú)特的系統(tǒng),既不受物鏡焦距的影響,也不依賴人眼辨別兩點(diǎn)的能力,與其他聚焦系統(tǒng)相比,焦點(diǎn)可以非常地確定。該聚焦系統(tǒng)和數(shù)字儀表允許非接觸、高精度測量表面之間的臺階高度。


工業(yè)顯微鏡測量方法.png


高倍率工業(yè)顯微鏡的優(yōu)勢



    在非接觸光學(xué)方法下檢測焦點(diǎn)時(shí),可在不受試樣物理損傷影響的情況下進(jìn)行測量,如變形、沖擊或刻痕等。


    參考圖-①由于采用了基于“分割目標(biāo)”方法的聚焦指示器,只需將分劃的兩半重合即可進(jìn)行高度的深度測量。由于操作簡單,這是*適合各種應(yīng)用的測量顯微鏡系統(tǒng)。在觀察測量點(diǎn)的微小表面狀況時(shí),可以確定測量參考點(diǎn)和測量點(diǎn)之間的位置關(guān)系,也可以在同一視野內(nèi)進(jìn)行測量。

正向立式投影儀.png


    參考圖-②可通過使用高倍率物鏡提高測量精度。

正向立式投影儀2.png


    參考圖-③可根據(jù)試樣表面條件選擇黑色條紋或白色條紋目標(biāo)標(biāo)記。由于杠桿可選擇三種目標(biāo)標(biāo)記狀態(tài)(黑色條紋、白色條紋和無),因此必要時(shí)可在無目標(biāo)標(biāo)記的情況下拍攝照片。

正向立式投影儀使用.png


    各種型號可通過觀察頭、測量臺等不同設(shè)備組合配置,取決于各自用戶的應(yīng)用程序(參考系統(tǒng)圖)如果使用激光系統(tǒng)觀察透明、鏡面或梨皮表面,由于漫反射,容易出現(xiàn)聚焦誤差。在我們的光學(xué)系統(tǒng)中,目標(biāo)標(biāo)記可以投射到這些表面上,可以測量這些樣品表面的臺階高度。


高倍率工業(yè)顯微鏡產(chǎn)品尺寸



立式正向投影儀產(chǎn)品尺寸.png


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